一、工作原理

 

植被冠層分析儀基于冠層孔隙率與冠層結構相關的原理，采用比爾定律（即光線在穿過介質時因散射和吸收而減弱）作為核心原理。通過對冠層孔隙率的測定，并結合半理論半經(jīng)驗公式，計算出冠層結構的關鍵參數(shù)。

 

二、功能特點

 

光穿透測量：通過測量冠層下方不同高度處的光強度，分析冠層對太陽輻射的吸收和透射情況。這包括直射光和散射光透過冠層的情況，對于研究光合作用效率至關重要。

 

葉面積指數(shù)（LAI）估計：計算植物單位面積上的葉片面積總和，是衡量植被覆蓋度的關鍵指標之一。

 

冠層結構分析：評估葉片的空間分布情況，如葉子的角度分布等，有助于了解植物冠層的結構及其對光照的捕獲效率。

 

冠層間隙分析：通過分析冠層中空隙的比例，了解冠層的遮蔽程度。

 

三、可測量指標

 

植被冠層分析儀支持多項關鍵參數(shù)測量，涵蓋植物冠層結構多維度信息：

 

葉面積指數(shù)：計算植物單位面積上的葉片面積總和，是植物光合作用和生長評估的重要指標。

 

葉片平均傾角：測量葉片相對于地面的平均傾斜角度，有助于評估植物冠層的光截獲能力。

 

天空散射光透過率：測量散射光透過植物冠層的比例，反映冠層對自然光分布的調節(jié)能力。

 

不同太陽高度角下的直射輻射透過率：記錄在不同太陽角度下，直射光穿透冠層的能力，分析植物在不同光照條件下的光能利用效率。

 

不同太陽高度角下冠層的消光系數(shù)：測量冠層對直射光的削弱程度，評估冠層對光能的吸收與反射能力。

 

葉面積密度的方位分布：計算不同方位葉片的分布密度，幫助分析植物冠層的均勻性和結構特點。